测量原理与应用特点

特定波长的近红外光会被有机材料分子中的C-H键或水分子中H-O键选择性吸收，且吸收能力与材料中分子键的多少呈正相关关系。近红外测厚仪便是利用这一原理通过近红外光电探测器探测材料对近红外光的吸收量来测量材料的面密度（厚度）或材料中所含水分。

测量方式：近红外光穿透吸收式测量。

测量物理量：面密度（克重），当材料体积密度一致性比较高时，可以通过体积密度换算用来测量材料的厚度。

近红外测厚仪具有测量精度高、受探头与被测材料的间距和角度变化影响小等特点。对于测量透明或半透明有机涂层具有特有的优势，同时也是测量材料中水分含量的理想方式。

近红外测厚仪可同时实现面密度/厚度和水分一体化测量，即采用一套测厚仪系统同时实现面密度（厚度）和水分在线测量，真正实现低投入、高精度、效率在线测量。

测量传感器

单探头近红外测量传感器：采用USA进口近红外测量仪，集发射器和探测接收器于一体，采用增强数码探测处理系统，具有精度高、长寿命、性能稳定、易于安装等特点。适合透明度较高的塑料薄膜、有机涂层、胶带的定量或水分测量。

双探头近红外测量传感器：包含近红外发射器和探测器，相对同轴安装于被测材料的两侧，对于透明度不高，或对测量精度要求较高时，一般采用双探头测量，如测量纸张、半固化片克重或水分测量等。

双探头近红外测量系统系统系我司定制研发，关键核心部件全部进口，性价比更高，是我司的优势产品。