光谱共焦测厚仪测量原理与应用特点

测量传感器：高精度光谱共焦位移传感器。

测量方式：反射式光学几何厚度测量。

在测量过程中，由光源发出的一束宽光谱的混色光，通过色散镜头发生光谱色散，形成不同波长的单色光。由于每一种单色光的波长不同，在光轴空间上形成一组连续的焦点，每一个波长的焦点都对应一个距离值。测量光射到物体表面被反射回来，只有满足共焦条件的单色光，可以通过光路小孔被光谱仪感测到，通过计算被感测到的波长，换算获得距离值。

锐奇光谱共焦测厚仪具有高精度、高稳定性、大角度、高采样频率等测量特性，对于塑料薄膜、玻璃、高光金属等透明或不透明的镜面/半镜面反射材料，以及多层透明材料厚度测量具有特有优势。

光谱共焦测厚仪根据不同材料测量需求，可采用单测头测厚仪或双测头测量。对于透明材料多采用单测头测量。

双测头测厚仪采用大理石或铸铁C型扫描架，单测头测厚仪采用π型龙门式扫描架。

各种材料的测量模式如下图：

技术特色和强大的软件功能模块

华为软件架构师和大数据专家量身打造的新一代在线测量软件系统，功能更强大，算法更科学。

采用光谱共焦位移传感器，结合锐奇先进的测量软件算法，提供更高重复精度。

可实现扫描测量、定点测量、循环定点测量，扫描和定点模式任意切换。

单次/多次轮廓线、分区线、趋势线等丰富的测量曲线实时呈现、多种品质数据显示。

基于数据库的海量全价值数据excel格式存储，历史数据查询和追溯，历史曲线复显。

专业级SPC统计分析，自动生成品质卷报，并可根据客户需求定制。

多种过程控制解决方案，五线品质控制，多重预警和报警，超限喷码打标。

支持实现闭环自动控制，可对接客户MES系统，可实现多机架同点对位跟踪测量。

自主研发数据采集卡与控制板卡，实时通信系统与CANOPEN总线通信传输，保证高速测量响应。

更强易用性和友好人机界面，一键智能操作，易学易用